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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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X. F. Liu
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Z. W. Shen
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W. S. Zhao
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L. Wang
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G. S. Sun
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Y. P. Zeng
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提交时间:2018/06/15
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期刊论文
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X. D. Tao
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H. L. Wang
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B. F. Miao
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L. Sun
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B. You
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D. Wu
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W. Zhang
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J. H. Zhao
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H. F. Ding
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期刊论文
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X. Y. Zhou
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J. P. Sun
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Y. L. Zou
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D. Zhang
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W. K. Lou
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Kai Chang
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提交时间:2016/04/08
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期刊论文
作者:
X. D. Tao
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H. L. Wang
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B. F. Miao
;
L. Sun
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B. You
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D. Wu
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W. Zhang
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J. H. Zhao
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H. F. Ding
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期刊论文
作者:
Zhang SG (Zhang S. G.)
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Zhang XW (Zhang X. W.)
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Yin ZG (Yin Z. G.)
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Wang JX (Wang J. X.)
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Dong JJ (Dong J. J.)
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Gao HL (Gao H. L.)
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Tao Y (Tao Y.)
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期刊论文
作者:
Sun L (Sun L.)
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Zhang L (Zhang L.)
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Yu HJ (Yu H. J.)
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Guo L (Guo L.)
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Ma JL (Ma J. L.)
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Zhang J (Zhang J.)
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Hou W (Hou W.)
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Lin XC (Lin X. C.)
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Li JM (Li J. M.)
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Sun, L, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Lab All Solid State Laser Sources, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址:
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提交时间:2010/11/02
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期刊论文
作者:
Zhang L (Zhang L.)
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Guo L (Guo L.)
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Xiong B (Xiong B.)
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Yan X (Yan X.)
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Sun L (Sun L.)
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Hou W (Hou W.)
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Lin XC (Lin X. C.)
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Li JM (Li J. M.)
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提交时间:2010/10/11
Micro-raman investigation of defects in a 4H-SiC homoepilayer
会议论文
Silicon Carbide and Related Materials 2006丛书标题: MATERIALS SCIENCE FORUM, Newcastle upon Tyne, ENGLAND, SEP, 2006
作者:
Liu, XF (Liu, X. F.)
;
Sun, GS (Sun, G. S.)
;
Li, JM (Li, J. M.)
;
Zhao, YM (Zhao, Y. M.)
;
Li, JY (Li, J. Y.)
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Wang, L (Wang, L.)
;
Zhao, WS (Zhao, W. S.)
;
Luo, MC (Luo, M. C.)
;
Zeng, YP (Zeng, Y. P.)
;
Liu, XF, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Novel Semicond Mat Lab, Beijing 100083, Peoples R China.
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提交时间:2010/03/29
Micro-raman
4h-sic
Defects
3c-inclusions
Triangle-shaped Inclusion
Epitaxial Layers
Silicon-carbide
Homoepitaxial growth of 4H-SiC multi-epilayers and its application to UV detection
会议论文
Silicon Carbide and Related Materials 2006丛书标题: MATERIALS SCIENCE FORUM, Newcastle upon Tyne, ENGLAND, SEP, 2006
作者:
Liu, XF (Liu, X. F.)
;
Sun, GS (Sun, G. S.)
;
Zhao, YM (Zhao, Y. M.)
;
Ning, J (Ning, J.)
;
Li, JY (Li, J. Y.)
;
Wang, L (Wang, L.)
;
Zhao, WS (Zhao, W. S.)
;
Luo, MC (Luo, M. C.)
;
Li, JM (Li, J. M.)
;
Liu, XF, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Novel Semicond Mat Lab, Beijing 100083, Peoples R China.
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提交时间:2010/03/29
Homoepitaxy
4h-sic
Multi-epilayer
Uv Detection
p(+)-pi-n(-)
Ultraviolet Photodetector
Epitaxial-growth