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无权访问的条目 期刊论文
作者:  X. F. Liu;  z G. G. Yan;  Z. W. Shen;  Z. X.Wen;  L. X. Tian;  W. S. Zhao;  L. Wang;  M. Guan;  F. Zhang;  G. S. Sun;  Y. P. Zeng
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  X. Y. Zhou;  R. Zhang;  J. P. Sun;  Y. L. Zou;  D. Zhang;  W. K. Lou;  F. Cheng;  G. H. Zhou;  F. Zhai;  Kai Chang
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  P. Y. Zhou;  X. F. Wu;  K. Ding;  X. M. Dou;  G. W. Zha;  H. Q. Ni;  Z. C. Niu;  H. J. Zhu;  D. S. Jiang;  C. L. Zhao;  B. Q. Sun
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  M. X. Feng, J. P. Liu, S. M. Zhang, D. S. Jiang, Z. C. Li, K. Zhou, D. Y. Li, L. Q. Zhang, F. Wang, H. Wang, P. Chen, Z. S. Liu, D. G. Zhao, Q. Sun, H. Yang
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Pan D (Pan, D.);  Jian JK (Jian, J. K.);  Ablat A (Ablat, A.);  Li J (Li, J.);  Sun YF (Sun, Y. F.);  Wu R (Wu, R.)
Adobe PDF(245Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1335/303  |  提交时间：2013/04/02
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhang SG (Zhang S. G.);  Zhang XW (Zhang X. W.);  Yin ZG (Yin Z. G.);  Wang JX (Wang J. X.);  Dong JJ (Dong J. J.);  Gao HL (Gao H. L.);  Si FT (Si F. T.);  Sun SS (Sun S. S.);  Tao Y (Tao Y.)
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Micro-raman investigation of defects in a 4H-SiC homoepilayer 会议论文
Silicon Carbide and Related Materials 2006丛书标题: MATERIALS SCIENCE FORUM, Newcastle upon Tyne, ENGLAND, SEP, 2006
作者:  Liu, XF (Liu, X. F.);  Sun, GS (Sun, G. S.);  Li, JM (Li, J. M.);  Zhao, YM (Zhao, Y. M.);  Li, JY (Li, J. Y.);  Wang, L (Wang, L.);  Zhao, WS (Zhao, W. S.);  Luo, MC (Luo, M. C.);  Zeng, YP (Zeng, Y. P.);  Liu, XF, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Novel Semicond Mat Lab, Beijing 100083, Peoples R China.
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Micro-raman  4h-sic  Defects  3c-inclusions  Triangle-shaped Inclusion  Epitaxial Layers  Silicon-carbide  
Homoepitaxial growth of 4H-SiC multi-epilayers and its application to UV detection 会议论文
Silicon Carbide and Related Materials 2006丛书标题: MATERIALS SCIENCE FORUM, Newcastle upon Tyne, ENGLAND, SEP, 2006
作者:  Liu, XF (Liu, X. F.);  Sun, GS (Sun, G. S.);  Zhao, YM (Zhao, Y. M.);  Ning, J (Ning, J.);  Li, JY (Li, J. Y.);  Wang, L (Wang, L.);  Zhao, WS (Zhao, W. S.);  Luo, MC (Luo, M. C.);  Li, JM (Li, J. M.);  Liu, XF, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Novel Semicond Mat Lab, Beijing 100083, Peoples R China.
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Homoepitaxy  4h-sic  Multi-epilayer  Uv Detection  p(+)-pi-n(-)  Ultraviolet Photodetector  Epitaxial-growth  
Vertical PIN ultraviolet photodetectors based on 4H-SiC homoepilayers 会议论文
Physica Status Solidi C - Current Topics in Solid State Physics丛书标题: PHYSICA STATUS SOLIDI C-CURRENT TOPICS IN SOLID STATE PHYSICS, Vancouver, CANADA, AUG 13-17, 2006
作者:  Liu, XF (Liu, X. F.);  Sun, GS (Sun, G. S.);  Li, JM (Li, J. M.);  Ning, J (Ning, J.);  Zhao, YM (Zhao, Y. M.);  Luo, MC (Luo, M. C.);  Wang, L (Wang, L.);  Zhao, WS (Zhao, W. S.);  Zeng, YP (Zeng, Y. P.);  Liu, XF, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Novel Semicond Mat Lab, Beijing 100083, Peoples R China.
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Avalanche Photodiodes  Area  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Huang Y (Huang Y.);  Wang H (Wang H.);  Sun Q (Sun Q.);  Chen J (Chen J.);  Li DY (Li D. Y.);  Zhang JC (Zhang J. C.);  Wang JF (Wang J. F.);  Wang YT (Wang Y. T.);  Yang H (Yang H.);  Wang, H, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Integrated Optoelect, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. E-mail: [email protected]
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