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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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期刊论文
作者:
Sun GS (Sun G. S.)
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Liu XF (Liu X. F.)
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Gong QC (Gong Q. C.)
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Wang L (Wang L.)
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Zhao WS (Zhao W. S.)
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Li JY (Li J. Y.)
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Zeng YP (Zeng Y. P.)
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Li JM (Li J. M.)
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Sun, GS, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. E-mail:
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提交时间:2010/04/11
Morphological defects and uniformity issues of 4H-SiC homoepitaxial layers grown on off-oriented (0001)Si faces
会议论文
MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, Beijing, PEOPLES R CHINA, SEP 13-19, 2005
作者:
Sun, GS (Sun, G. S.)
;
Liu, XF (Liu, X. F.)
;
Gong, QC (Gong, Q. C.)
;
Wang, L (Wang, L.)
;
Zhao, WS (Zhao, W. S.)
;
Li, JY (Li, J. Y.)
;
Zeng, YP (Zeng, Y. P.)
;
Li, JM (Li, J. M.)
;
Sun, GS, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址:
[email protected]
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提交时间:2010/03/29
4h-sic
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期刊论文
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周伟
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梁基本
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徐波
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王占国
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提交时间:2010/11/23
无权访问的条目
期刊论文
作者:
朱东海
;
范缇文
;
梁基本
;
徐波
;
朱战萍
;
龚谦
;
江潮
;
李含轩
;
周伟
;
王占国
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提交时间:2010/11/23