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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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作者:
Chu, Xinbo
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Guan, Min
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Niu, Litao
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Zeng, Yiping
;
Li, Yiyang
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Zhang, Yang
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Zhu, Zhanping
;
Wang,Baoqiang
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提交时间:2015/03/20
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Chu XB (Chu, Xinbo)
;
Guan M (Guan, Min)
;
Li LS (Li, Linsen)
;
Zhang Y (Zhang, Yang)
;
Zhang F (Zhang, Feng)
;
Li YY (Li, Yiyang)
;
Zhu ZP (Zhu, Zhanping)
;
Wang BQ (Wang, Baoqiang)
;
Zeng YP (Zeng, Yiping)
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提交时间:2013/04/02
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Li LS (Li Linsen)
;
Guan M (Guan Min)
;
Cao GH (Cao Guohua)
;
Li YY (Li Yiyang)
;
Zeng YP (Zeng Yiping)
;
Guan, M, Chinese Acad Sci, Key Lab Semicond Mat Sci, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址:
[email protected]
;
[email protected]
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提交时间:2010/04/28
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Li LS (Li Linsen)
;
Guan M (Guan Min)
;
Cao GH (Cao Guohua)
;
Li YY (Li Yiyang)
;
Zeng YP (Zeng Yiping)
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提交时间:2010/09/20
一种对半导体材料进行霍尔测试的装置
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN200910244534.8, 公开日期: 2011-08-31
发明人:
李弋洋
;
李成基
;
曾一平
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提交时间:2011/08/31
发光二极管响应特性的测试系统及方法
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-08-30
发明人:
牛立涛
;
关敏
;
楚新波
;
李弋洋
;
曾一平
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提交时间:2016/08/30